|
Szczegóły Produktu:
|
| Zakres długości fali: | 400 ~ 700 nm | Tryb spektrofotometryczny: | Płaska kratka |
|---|---|---|---|
| Interwał długości fali: | 10 nm | Bateria: | Akumulator litowo-jonowy 3,7 V, 5000 mAh, 6000 pomiarów w ciągu 8 godzin |
| wymiar: | L * W * H = 129X76X217 mm | waga: | Około 600g |
| High Light: | Spektrofotometr z siatką TS7600,kratka TS7600 w spektrofotometrze,spektrofotometr z siatką 700 nm |
||
Spektrofotometr kratowy TS7600
Instrument przyjmuje precyzyjną płonącą siatkę 1000 linii jako element spektroskopowy, matrycę fotokomórek krzemowych z dużym obszarem światłoczułym jako detektor, pełne spektrum led o wysokiej żywotności jako źródło światła, a rozdzielczość optyczna jest mniejsza niż 10 nm w zakresie światła widzialnego .Pod warunkiem geometrycznego oświetlenia optycznego d / 8 zalecanego przez CIE, spektrofotometr kratowy TS7600 może dokładnie mierzyć dane współczynnika odbicia SCI i SCE próbek / próbek fluorescencyjnych, a także może dokładnie mierzyć i wyrażać różne wzory różnic kolorów i indeksy kolorów w różnych przestrzeniach kolorów .Dzięki spektrofotometrowi TS7600 może z łatwością realizować dokładną transmisję koloru, a także może być używany jako sprzęt do wykrywania dokładnego systemu dopasowywania kolorów.
| Model | TS7600 |
| Całkowanie rozmiaru kuli | Φ40mm |
| Źródło światła | Połączone źródło światła LED o pełnym spektrum |
| Tryb spektrofotometryczny | Krata płaska |
| Zakres długości fali | 400 ~ 700 nm |
| Przedział długości fal | 10 nm |
| Zmierzony zakres współczynnika odbicia | 0-200% |
| Pomiar przysłony | Dostosowana jedna przysłona: MAV: Φ8 mm / Φ10 mm ； SAV: Φ4 mm / Φ5 mm |
| Element zwierciadlany | SCI & SCE |
| Przestrzeń kolorów | CIE LAB, XYZ, Yxy, LCh, CIE LUV, s-RGB, βxy, Munsell (C / 2) |
| Formuła różnicy kolorów | ΔE * ab, ΔE * uv, ΔE * 94, ΔE * cmc (2: 1), ΔE * cmc (1: 1), ΔE * 00 |
| Kąt obserwatora | 2 ° / 10 ° |
| Oświetlacz | D65, A, C, D50, F2 (CWF), F7 (DLF), F10 (TPL5), F11 (TL84), F12 (TL83 / U30) |
| Czas pomiaru | Około 1,5 s (środek SCI i SCE około 3,2 s) |
| Tryb pomiaru | Pojedynczy pomiar, średni pomiar (2-99 razy) |
| Metoda lokalizacji | Lokalizacja kamery, pozycja krzyżowa stabilizatora |
| Wymiar | L * W * H = 129X76X217mm |
| Waga | Około 600g |
Osoba kontaktowa: Lisa Niu
Tel: 86-15699785629
Faks: +86-010-5653-8958
